发明名称 |
一种物料的高精度测量方法及用该方法制造的核子秤 |
摘要 |
本发明公开了一种物料的高精度测量方法,将现通用核子秤采用的测量公式F=K(LnU<SUB>i</SUB>/U<SUB>0</SUB>)中的常量系数根据所述物料的流量变化、在所述输送装置上所处的不同位置、堆积形状以及γ射线散射等因素的影响来动态修正,其计算公式为F=b<SUB>i</SUB>+k<SUB>i</SUB>Ln(U<SUB>i</SUB>/U<SUB>o</SUB>)或F=a<SUB>0</SUB>+a<SUB>1</SUB>LnU<SUB>i</SUB>/U<SUB>o</SUB>+a<SUB>2</SUB>(LnU<SUB>i</SUB>/U<SUB>o</SUB>)<SUP>2</SUP>+…+a<SUB>k</SUB>(LnU<SUB>i</SUB>/U<SUB>o</SUB>)<SUP>k</SUP>;本发明还利用该方法制造了一种高精度核子秤,其优点是:测量精度高,适用的流量范围大,应用领域广泛,稳定性好。 |
申请公布号 |
CN1112572C |
申请公布日期 |
2003.06.25 |
申请号 |
CN99111339.X |
申请日期 |
1999.08.10 |
申请人 |
北京中乾机电设备有限责任公司 |
发明人 |
邸生才 |
分类号 |
G01G9/00 |
主分类号 |
G01G9/00 |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
梁挥 |
主权项 |
1、一种物料的高精度测量方法,将所测物料置于输送装置上,在所述输送装置上方设置有γ放射源,在所述输送装置下方设置γ射线探测器,所述输送装置上安装有测速装置,所述γ射线探测器和测速装置与带有数据输入装置和数据输出装置的微机数据处理系统相连;首先根据有物料时所述γ射线探测器输出电压Ui及无物料时所述γ射线探测器输出电压U0,计算出物料负荷F=KLn(Ui/U0);其次利用所述测速装置测出的输送速度V,计算出所述物料的流量P=FV;最后计算出所述输送装置在一段时间内的输送物料的累计量为<math> <mrow> <msub> <mi>W</mi> <mi>h</mi> </msub> <mo>=</mo> <munderover> <mi>Σ</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msub> <mi>F</mi> <mi>i</mi> </msub> <msub> <mi>V</mi> <mi>i</mi> </msub> </mrow> </math> 其特征在于:所述公式F=KLn(Ui/U0)中的系数K值,是根据所述物料的流量变化、在所述输送装置上所处的不同位置、堆积形状以及γ射线散射等因素的影响来动态修定的。 |
地址 |
100044北京市海淀区中关村南大街甲56号方圆大厦商务楼303D |