| 主权项 |
1.一种电性测试取放机之同步上升机构,该电性测试取放机是包含一可将一电性连结有多数晶片之载具由一进料端输送至一测试端部之流道、多数可拆换地装设在该测试端部之上方且共同形成一测试平面的测试连结座,及一与该等测试连结座相电性连结且可测试晶片之电性功能的测试模组,该同步上升机构是包含:一具有一连动台之作动装置,是与该流道之测试端部相连结且可相对该流道上下来回作动;一动力装置,是可驱动该作动装置在一测试位置与一输送位置上下来回作动;及一可由该作动装置同步带动之支持装置,是包含一具有相反之一支承面与一连结底面之支撑台,及一分别连结该连动台与该连结底面之连动件,该支承面是可支承该载具;当该作动装置是在该输送位置时,该连动件是带动该支撑台,使该支撑台之支承面是低于该流道一预定距离,而使该载具是可平顺地输送至该测试端部;当该作动装置由该输送位置向该测试位置移动时,该连动台是同步带动该连动件,使该连动件带动并调整该支撑台水平地向该测试平面抬昇,而使该载具水平于该测试平面而与该等测试连结座相电性连结,并使该多数晶片相对应地与该等测试连结座电性连结,而可由该测试模组测试该等晶片的电性功能。2.如申请专利范围第1项所述之电性测试取放机之同步上升机构,其中,该作动装置之连动台是包含二相间隔之调整部,该等调整部是分别具有一输送面,及一相对该输送面向下凹陷之凹陷面,该输送面与该凹陷面是相连结成一平滑曲面,且该一调整部的输送面是与另一调整部之输送面是相对靠近,及该凹陷面是与另一调整部之凹陷面是相对远离,当该作动装置是在该输送位置时,该连动件是滑移至该连动台之调整部的凹陷面,使该支承面是低于该流道一预定距离,而使该载具是可平顺地输送至该测试端;当该作动装置由该输送位置向该测试位置移动时,该连动件是由该连动台是同步带动由该凹陷面滑移至该输送面,使该连动件带动并调整该支撑台水平地向该测试平面抬,使该载具水平于该测试平面而与该等测试连结座相电性连结,并使该多数晶片相对应地与该等测试连结座电性连结,而可由该测试模组测试该等晶片的电性功能。3.如申请专利范围第1项所述之电性测试取放机之同步上升机构,其中,该支持装置之连动件是包含二分别与该连动台相枢接之凸轮板,及二分别与该凸轮板相枢接且可在该连动台来回滑移之凸轮轴,当该作动装置是在该输送位置时,该等凸轮轴是可滑移地相对远离并使该等凸轮板带动该支撑台,使该支承面是低于该流道一预定距离,而使该载具是可平顺地输送至该测试端部;当该作动装置由该输送位置向该测试位置移动时,该连动台是同步带动该二凸轮轴可滑移地相对移进,使该等凸轮板带动并调整该支撑台水平地向该测试平面抬昇,使该载具水平于该测试平面而与该等测试连结座相电性连结,并使该多数晶片相对应地与该等测试连结座电性连结,而可由该测试模组测试该等晶片的电性功能。图式简单说明:第一图是一电性测试取放机之示意图,并说明多数积体电路元件依序进行一测试制程。第二图是第一图之局部放大图,说明一以导线架为载具之积体电路元件与一测试连结座连结时之情形。第三图是第一图之局部放大图,说明一以基板为载具之积体电路元件与一测试连结座连结时之情形。第四图是本创作之电性测试取放机之同步上升机构之立体示意图。第五图是第四图之同步上升机构之一侧视图。第六图是第五图之一局部放大图,并说明当该同步上升机构在一输送位置时,该同步上升机构之一连动件与一支撑台之相对位置。第七图是第五图之一局部放大图,并说明当该同步上升机构在一测试位置时,该同步上升机构之一连动件与一支撑台之相对位置。 |
