发明名称 IC测试机台之拆卸装置
摘要 一种IC测试机台之拆卸装置,其系包括有:一支撑部、一活动部和一把手,其特征在于:该支撑部具有一滑轨与一螺孔,该活动部前端具有一卡钩,可提供卡扣固定物件之效果,且该活动部系于该支撑部之滑轨上进行线性滑动,该把手系通过该支撑部之螺孔与该活动部相连接,且该把手具有一螺纹,利用该把手之螺纹与该支撑部之螺孔相互配合,即可快速定位出该活动部之位置。其中该把手系可为T形,且该支撑部、该活动部和该把手系可选用塑钢材料,以增加装置强度。
申请公布号 TW539138 申请公布日期 2003.06.21
申请号 TW091200859 申请日期 2002.01.29
申请人 南茂科技股份有限公司 发明人 曾明忠;乔永桦;高志全
分类号 G01R3/00 主分类号 G01R3/00
代理机构 代理人 何文渊 台北市信义区松德路一七一号二楼
主权项 1.一种IC测试机台之拆卸装置,其系包括有:一支撑部,其系具有一滑轨与一螺孔;一活动部,其前端具有一卡钩,可提供卡扣固定物件之效果,且该活动部系于该支撑部之滑轨上进行线性滑动;一把手,其系通过该支撑部之螺孔与该活动部相连接,且该把手具有与该支撑部之螺孔相互配合之螺纹。2.如申请专利范围第1项所述之IC测试机台之拆卸装置,其中该把手系可为T形。3.如申请专利范围第1项所述之IC测试机台之拆卸装置,其中该支撑部、该活动部和该把手系可为塑钢材料。4.一种IC测试机台之拆卸装置,其系包括有:一支撑部、一活动部和一把手,其特征在于:该支撑部具有一滑轨与一螺孔,该活动部前端具有一卡钩,可提供卡扣固定物件之效果,且该活动部系于该支撑部之滑轨上进行线性滑动,该把手系通过该支撑部之螺孔与该活动部相连接,且该把手具有一螺纹,利用该把手之螺纹与该支撑部之螺孔相互配合,即可定位出该活动部之位置。5.如申请专利范围第4项所述之IC测试机台之拆卸装置,其中该把手系可为T形。6.如申请专利范围第4项所述之IC测试机台之拆卸装置,其中该支撑部、该活动部和该把手系可为塑钢材料。图式简单说明:图一为本创作IC测试机台之拆卸装置较佳实施例示意图。图二A至C为本创作IC测试机台之拆卸装置较佳实施例之使用操作示意图。
地址 新竹市新竹科学工业园区研发一路一号