| 发明名称 |
PROCEDE DE TEST D'UN PLAN-MEMOIRE A ACCES SEQUENTIEL, ET DISPOSITIF SEMICONDUCTEUR DE MEMOIRE A ACCES SEQUENTIEL CORRESPONDANT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2821202(B1) |
申请公布日期 |
2003.06.20 |
| 申请号 |
FR20010002333 |
申请日期 |
2001.02.21 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS SA |
发明人 |
BEAUJOIN MARC;ALOFS THOMAS;ARMAGNAT PAUL |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C29/38;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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