发明名称 一种测量纵向尺寸的测量柱
摘要 一种测量纵向尺寸的测量柱(1),包括支撑框架(2),可沿设置在支撑框架上的测量轴(Z)移动的滑动架(3),连接到所述滑动架的探测头(44),其设计成可以与进行测量的工件接触;滑动架的驱动机构,包括缆绳或传动带(40),可带动所述滑动架沿所述测量轴移动;测量所述滑动架(3)沿所述测量轴位置的系统。一框架以铰接的方式连接到滑动架。缆绳或传动带连接到该框架。该框架和滑动架之间的铰接件可允许沿平行于所述滑动架平面的枢轴(x)作至少一个枢轴转动。这种测量柱的优点是缆绳或传动带施加的力或力矩不直接作用在滑动架。沿测量轴以外的轴上的力可被该框架吸收。
申请公布号 CN1424556A 申请公布日期 2003.06.18
申请号 CN02156152.4 申请日期 2002.12.12
申请人 布朗和沙普·特萨有限公司 发明人 P·乔尔迪尔;A·扎尼尔
分类号 G01B5/02 主分类号 G01B5/02
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 章社杲
主权项 1.一种测量纵向尺寸(1)的测量柱,包括:支撑框架(2);滑动架(3),可沿设置在所述支撑框架上的测量轴(Z)移动;探测头(44),连接到所述滑动架,其设计成可与进行测量的工件接触;滑动架的驱动机构,包括可带动所述滑动架沿所述测量轴移动的缆绳或传动带(40);系统,可测量所述滑动架(3)沿所述测量轴的位置;其特征在于,所述缆绳或传动带和所述滑动架之间的铰接件(5,30)允许沿平行于所述滑动架平面的枢轴(x)作至少一个枢轴转动。
地址 瑞士勒南