发明名称 Testsystem für Halbleitervorrichtungen
摘要
申请公布号 DE10019790(C2) 申请公布日期 2003.06.18
申请号 DE20001019790 申请日期 2000.04.20
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 OIKAWA, HISASHI;WATANABE, YASUO
分类号 G11C29/44;G11C29/48;G11C29/56;(IPC1-7):H01L21/66;G01R31/318;G11C29/00 主分类号 G11C29/44
代理机构 代理人
主权项
地址