发明名称 |
SQUID MICROSCOPE FOR ROOM TEMPERATURE SAMPLES |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Bauteil für ein SQUID-Mikroskop sowie selbiges. Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung eines SQUID-Mikroskops, bei dem ein sehr kleiner Abstand zwischen der Probe und der Mikroskopspitze möglich ist. Erfindungsgemäss wird die Aufgabe gelöst, indem ein Substrat bereitgestellt wird, welches eine Kante aufweist. Die geschlossene Leiterbahn, die die Probe mit dem SQUID koppelt bzw. der Weiterleitung des magnetischen Flusses dient, wird über die Kante geführt. Die beiden an die Kante angrenzenden Seiten des Substrats schliessen einen Winkel ein, der zwischen 90 und 180 DEG liegt. Durch Vorsehen des Winkels gelingt es, das Substrat zusammen mit der geschlossenen Leiterbahn näher an das Fenster einer Vakuumkammer heran zu bringen, als dies beim Stand der Technik möglich ist. Hinter dem Fenster ist die zu untersuchende Probe angeordnet.
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申请公布号 |
WO03048797(A1) |
申请公布日期 |
2003.06.12 |
申请号 |
WO2002DE04245 |
申请日期 |
2002.11.19 |
申请人 |
FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH;FARDMANESH, MEHDI;SCHUBERT, JUERGEN;BANZET, MARKO |
发明人 |
FARDMANESH, MEHDI;SCHUBERT, JUERGEN;BANZET, MARKO |
分类号 |
G01R33/035;(IPC1-7):G01R33/035 |
主分类号 |
G01R33/035 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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