发明名称 Feldeffekttransistor sowie Verfahren zu seiner Herstellung
摘要 Ein Feldeffekttransistor weist einen Gate-Stapel auf mit einer zu unterst auf dem Gateoxid (10) angeordneten ersten Schicht (15), vorzugsweise aus Polysilizium, und einer darüber angeordneten zweiten Schicht (20), vorzugsweise aus einem Silizid. Neben der Gateelektrode ist ein Kontakt (100) angeordnet, der von den Schichten (15, 20) der Gateelektrode durch eine siliziumhaltige Schicht (55) und eine Spacer-Schicht (90) getrennt ist. Die Erfindung vermeidet, daß bei erhöhter Temperatur in der Silizidschicht eine Rekristallisierung stattfindet, die eine Auswölbung der Silizidschicht zum Kontakt hin bewirkt. Außerdem werden dadurch Kurzschlüsse zwischen der Gateelektrode und dem Kontakt vermieden.
申请公布号 DE10157538(A1) 申请公布日期 2003.06.12
申请号 DE20011057538 申请日期 2001.11.23
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SCHUSTER, THOMAS;TOEBBEN, DIRK
分类号 H01L21/60;H01L21/8242;(IPC1-7):H01L29/78;H01L21/336 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
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