发明名称 Verfahren zur geführten Blind Deconvolution mikroskopischer Bilder und Software
摘要 A method for blind deconvolution of microscopic images, wherein a single parameter is varied in order to estimate the PSF. The single parameter takes into account the optical characteristics of the environment of the object (40) between the lens (20) of the microscope (1) and the region above the object. The individual parameter represents a functional context of the parameters of the individual layers.
申请公布号 DE10250775(A1) 申请公布日期 2003.06.12
申请号 DE2002150775 申请日期 2002.10.30
申请人 LEICA MICROSYSTEMS SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 GANSER, MICHAEL;WESNER, JOACHIM
分类号 G06T5/00;(IPC1-7):G06T5/50 主分类号 G06T5/00
代理机构 代理人
主权项
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