| 发明名称 | 半导体测试器件的测试板分割装置 | ||
| 摘要 | 本发明是一种半导体测试器件的测试板分割装置，包括一分割有一个以上区域的测试板及一个以上的受测器件(DUT)，其是将受测器件设在测试板的相对区域上，并有其接地点，使进行测试时，能降低噪声干扰，进而提高该半导体测试器件在测试时的准确度。 | ||
| 申请公布号 | CN1421705A | 申请公布日期 | 2003.06.04 |
| 申请号 | CN01134981.6 | 申请日期 | 2001.11.23 |
| 申请人 | 陈文祺 | 发明人 | 陈文祺 |
| 分类号 | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 | 主分类号 | G01R31/26 |
| 代理机构 | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人 | 王学强 |
| 主权项 | 1.一种半导体测试器件的测试板分割装置，包括：一分割有一个以上区域的测试板；一个以上的受测器件(DUT)，设在测试板的相对区域上，并有其接地点，使进行测试时，能降低噪声干扰，进而提高该半导体测试器件在测试时的准确度。 | ||
| 地址 | 中国台湾 | ||