发明名称 具有埋入型导电层的半导体器件及其制造方法
摘要 一种具有埋入型导电层的半导体器件及其制造方法。在半导体器件中,在第一层间绝缘层中形成埋入型导电层,上述导电层具有比上述第一层间绝缘层表面高的表面。另外,用具有平坦表面的绝缘膜覆盖上述第一层间绝缘层和上述导电层,在该绝缘膜中形成蚀刻选择比比上述绝缘膜高的的第二层间绝缘层。在上述半导体器件的制造方法中,在半导体衬底层上形成第一层间绝缘层,在第一层间绝缘层中形成沟,在第一层间绝缘层上形成导电层,用上述导电层掩埋沟,研磨导电层形成后的衬底表面,形成露出第一层间绝缘层和导电层的平坦面。还蚀刻去除研磨引起的上述第一层间绝缘层表面的损伤层,在蚀刻后的衬底表面上使用涂布法,形成绝缘膜。之后,在上述绝缘膜上形成蚀刻选择比比绝缘膜高的第二层间绝缘层。
申请公布号 CN1421928A 申请公布日期 2003.06.04
申请号 CN02148236.5 申请日期 2002.09.27
申请人 株式会社东芝 发明人 山田雅基;梶田明広
分类号 H01L23/522;H01L23/532;H01L21/768 主分类号 H01L23/522
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 孙敬国
主权项 1.一种半导体器件,具有:第一层间绝缘层;形成于上述第一层间绝缘层中的沟;掩埋上述沟、具有比上述第一层间绝缘层表面高的表面的导电层;覆盖上述第一层间绝缘层和上述导电层、具有平坦表面的绝缘膜;和形成于上述绝缘膜上、具有比上述绝缘膜高的蚀刻选择比的第二层间绝缘层。
地址 日本东京