| 摘要 |
Es wird ein Verfahren zur Auslegung einer Halbleitervorrichtung angegeben, bei der Energieversorgungsspannungen individuell angelegt werden können und ein Taktzittern (Takt-Jitter) zur Vermeidung einer Verringerung der Logikoperationsrate unterdrückt wird. Insbesondere sind Energieversorgungsleitungen (WL1), die mit Energieversorgungskontaktwalzen (BP1, BP2) elektrisch verbunden sind, parallel zu der seitlichen Anordnung der Energieversorgungskontaktwarzen (BP1, BP2) angeordnet, und Energieversorgungsleitungen (WL2) der unteren Schicht, die elektrisch mit den Energieversorgungsleitungen (WL1) verbunden sind, sind parallel zueinander derart angeordnet, dass sie, wenn von oben betrachtet, orthogonal zu den Energieversorgungsleitungen (WL1) verlaufen. Energieversorgungsspannungen (V1, V2) werden den zwei Energieversorgungsleitungen (WL1) zugeordnet, die die nächsten Nachbarn von einer Anordnung der Energieversorgungskontaktwarzen (BP1) sind, und Energieversorgungsspannungen (G1, G2) sind zwei Energieversorgungsleitungen (WL1) zugeordnet, die die nächsten Nachbarn von einer Anordnung der Energieversorgungskontaktwarzen (BP2) sind. Die Energieversorgungsleitungen sind parallel zueinander derart angeordnet, dass sie, wenn von oben betrachtet, orthogonal zu den Energieversorgungsleitungen (WL1) verlaufen. |
