发明名称 Verfahren zum Herstellen einer Maske für Halbleiterstrukturen
摘要 Um eine Maske herzustellen, wird eine Opferschicht auf einer Halbleiterscheibe aufgebracht, dann die Opferschicht mit Hilfe einer ersten und einer zweiten lithographischen Prozessfolge bearbeitet, um die Opferschicht in eine erste und eine zweite Richtung zu strukturieren, anschließend eine Hartmaskenschicht aufgebracht, um die strukturierte Opferschicht vollständig einzuschließen, und dann die Opferschicht aus der Hartmaskenschicht entfernt.
申请公布号 DE10154820(A1) 申请公布日期 2003.05.28
申请号 DE20011054820 申请日期 2001.11.08
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 POPP, MARTIN
分类号 G03F1/00;G03F9/00;H01L21/302;H01L21/308;H01L21/461;(IPC1-7):G03F1/00 主分类号 G03F1/00
代理机构 代理人
主权项
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