发明名称 System und Verfahren zum Testen von Schaltungen und Programmieren integrierter Schaltungsvorrichtungen
摘要 Ein verbessertes System und ein Verfahren zum Erhöhen eines Systemdurchsatzes und einer Datenkapazität in einem Schaltungstester, der in der Lage ist, schaltungsinterne integrierte Schaltungsvorrichtungen zu programmieren und/oder zu testen, sind offenbart. Ein Datenbeschleuniger zur Verwendung bei einem Testvektorsequenzer kann mit einem Datenumsetzer, einer Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen und einem Schalter realisiert sein. Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen sind der Datenumsetzer und der Schalter über ein einzelnes Steuerungssignal ansprechend auf eine Anzeige konfiguriert, daß eine erste Sequenzspeichervorrichtung bereit ist, um ein Datensegment zu empfangen, und daß eine zweite Sequenzspeichervorrichtung bereit ist, um ein vorher gespeichertes Datensegment zu übertragen. Ein Verfahren zum Erhöhen eines Durchsatzes in einem Schaltungstester kann wie folgt realisiert werden: Segmentieren einer Testanwendung; Aufnehmen eines ersten Anwendungssegments in einer ersten Speichervorrichtung; Konfigurieren eines Testsequenzers, um das erste Anwendungssegment weiterzuleiten und gleichzeitig ein nachfolgendes Anwendungssegment in einer zweiten Sequenzspeichervorrichtung aufzunehmen; Erfassen einer Bedingung ansprechend auf die Fertigstellung der Segmentaufnahme- und Weiterleitungsaufgaben; Rekonfigurieren des Testsequenzers, um die Rollen der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung zu vertauschen; und Wiederholen der Schritte des Konfigurierens und des ...
申请公布号 DE10238563(A1) 申请公布日期 2003.05.22
申请号 DE20021038563 申请日期 2002.08.22
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 WILLIAMSON JUN., EDDIE L.;WIBLE, KEVIN LEE;ROZUM, STEPHEN P.
分类号 G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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