发明名称 Narrow contact design for magnetic random access memory (MRAM) arrays
摘要 An MRAM device (200) and method of manufacturing thereof having second conductive lines (228) with a narrow width. The second conductive lines (228) partially contact the resistive memory elements (214), reducing leakage currents in neighboring cells (214).
申请公布号 US6567300(B1) 申请公布日期 2003.05.20
申请号 US20020080415 申请日期 2002.02.22
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES, AG 发明人 RABERG WOLFGANG;HOENIGSCHMID HEINZ
分类号 G11C11/15;G11C11/16;H01L27/22;(IPC1-7):G11C11/15 主分类号 G11C11/15
代理机构 代理人
主权项
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