Vorrichtung und Verfahren zum Konfigurieren einer integrierten Schaltung mit eingebettetem Speicher

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Konfigurieren einer integrierten Schaltung mit eingebettetem Speicher, wobei für eine jeweilige Gruppe von Speicherstellen innerhalb eines Speichers Testinformationen erhalten werden (91). Die Testinformationen werden zum Erzeugen von komprimierten Testinformationen hierbei komprimiert (92), wobei auf der Grundlage der komprimierten Testinformationen ein Austausch einer Gruppe von redundanten Speicherschaltungen durchgeführt wird (93), die einer zugehörigen Gruppe von Speicherstellen entspricht.