发明名称 球格阵列型集成电路元件的测试组件
摘要 本实用新型提供一种球格阵列型集成电路元件的测试组件,包括一测试用电路板及一测试插座,该测试插座包括:多个可移除式固定元件,可将所述测试插座固定于所述测试用电路板上并可拆装;一插座本体,可承接一待测集成电路元件;一上盖,枢设于所述插座本体的一端;多个导电探针,设于所述插座本体上。其中,所述上盖上设有上扣接元件以与设于该插座本体上的下扣接元件扣接,借此可使待测集成电路元件固定于该插座本体上,并使该待测集成电路元件上的接脚紧密的接合于其对应的导电探针。
申请公布号 CN2550772Y 申请公布日期 2003.05.14
申请号 CN02236505.2 申请日期 2002.05.27
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 王振芳;黄耀奎
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G06F11/22 主分类号 G01R31/26
代理机构 隆天国际专利商标代理有限公司 代理人 陈红;楼仙英
主权项 1、一种球格阵列型集成电路元件的测试插座,包括一插座本体,可承接一待测集成电路元件,其特征在于还包括:一上盖,枢接于所述插座本体的一端,并可与所述插座本体扣合,该上盖在扣合状态下抵压于所述待测集成电路元件上;至少一可移除式固定元件,将所述插座本体连接固定于一测试用电路板上;及多个导电探针,设于所述插座本体上,电连接于所述测试用电路板的电路及所述待测集成电路元件的接脚。
地址 中国台湾