| 主权项 |
1.一种检查用探针块之并列搭载单元,在支持基板用以并列搭载具有多数之探针的复数检查用探针块,使各检查用探针块之探针接触于显示板或配线电路基板之电极并能进行检查之检查用探针块之并列搭载单元中,其特征为:其构成系在上述支持基板设有导轨,而在该导轨将上述各检查用探针块通过滑块并以可滑动进行滑合,同时在预定之滑动位置中将各检查用之探针块进行固定于支持基板。2.如申请专利范围第1项所记载之检查用探针块之并列搭载单元,系具备缔结螺栓将上述滑块对导轨进行缔结并将上述检查用探针块对支持基板进行固定。3.如申请专利范围第1项所记载之检查用探针块之并列搭载单元,其中上述导轨系由导沟所构成,其构成系将上述滑块进行滑合于该导沟内,同时将上述检查用探针块使该导沟进行开口重叠于支持基板表面,通过上述导沟之开口将上述检查用探针块及上述滑块间藉由缔结螺栓进行缔结并在上述滑块及上述检查用探针块间用以挟持上述导沟之开口限制壁达成上述固定。4.如申请专利范围第3项所记载之检查用探针块之并列搭载单元,其中上述检查用探针块系通过座板并重叠于使上述导沟进行开口之支持基板表面,将上述检查用探针块藉由安装螺栓于该座板安装成一体,同时上述缔结螺栓系用以缔结该座板及上述滑块间并达成上述检查用探针块及滑块间之缔结用以形成上述挟持状态。5.如申请专利范围第3或第4项所记载之检查用探针块之并列搭载单元,其中上述滑块系具有球面,将上述缔结螺栓进行螺合于该球面之顶部,并藉由上述缔结螺栓之缔结使该球面在将上述缔结螺栓之螺栓轴做为中心之对称位置中进行挡接于上述开口限制壁用以形成上述挟持状态。图式简单说明:图1系检查用探针块之并列搭载单元之平面图。图2系上述单元中A-A线之剖面图。图3系滑块之斜视图。图4系显示上述滑块之他例的检查用探针块之并列搭载单元的剖面图。图5系显示探针并列绝缘膜及扁平配线电缆之连接状态仰视图。图6系显示将检查用探针块之并列搭载单元进行搭载于四方形主基板之平面图。 |
