| 主权项 |
1.一种测试绝对阻抗之校正方法,该方法主要系应用在一电路板上之各段线路之阻抗数値测试及校正,透过一输入/输出控制介面以设定一阻抗标准値A,及设置一与待测电路板上具有相同线路之基准板,将该基准板放置在一测试治具上测试,该测试治具会将所测之数値,透过该输入/输出控制介面存放在一中央处理单元之数据库内,以获得一阻抗数値之测试原始値B,嗣,再令该待测电路板放置在该测试治具上测试,并将所测之测试値C透过该输入/输出控制介面,存放在该中央处理单元之资料库内,再经由该中央处理单元之运算处理,并与该标准値A之比较判断后,将最后比较之实际値D显示在一显示装置中,如此,即可自动校正并确保所测之各段线路数値之准确无误。2.如申请专利范围第1项所述之测试绝对阻抗之校正方法,其中该基准板系由一电阻値接近零之裸铜板所制,俾提供该阻抗标准値之准确性。3.如申请专利范围第2项所述之测试绝对阻抗之校正方法,其中该方法流程如下:(1)首先,中央处理单元将接收该测试治具上之一基准板,并将该基准板上之各段线路数値,存放至其数据库中,以获得该阻抗数値之测试原始値B;(2)中央处理单元并判断该测试治具上,是否有待测电路板之存在若有,则继续;(3)此时,中央处理单元将进行该待测电路板之测试値C与该原始値B之差値运算处理,即:测试値C-原始値B,以获得该实际値D;(4)中央处理单元以先前所接收到该输入/输出控制介面内所设定之阻抗标准値A为判断値,迳行对该实际値D作一判断,若该实际値D系小于等于该标准値A,则表示符合标准,且显示于该显示装置中,若该实际値D系大于该标准値A,则表示不符合标准,且显示于该显示装置中,并继续步骤(2)。4.如申请专利范围第3项所述之测试绝对阻抗之校正方法,其中该中央处理单元侦测该测试治具上,若无待测电路板之存在,则结束测试。5.如申请专利范围第3项所述之测试绝对阻抗之校正方法,其中该测试治具系利用一阵列方式对该等线路进行逐一测试。6.如申请专利范围第3项所述之测试绝对阻抗之校正方法,其中该中央处理单元以先前所接收到该标准値A为判断値,迳行对该实际値D作一判断,若该实际値D系大于该标准値A,则表示不符合标准,且显示于该显示装置中,并结束此次测试作业。图式简单说明:第一图系为本发明之方块示意图;第二图系为本发明之流程示意图。 |
