光学测量装置

摘要

本实用新型提供一种光学测量装置，测量一光学组件，光学测量装置包含：一基座、一第一光纤对准器、一第一光纤、一第二光纤对准器、一第二光纤、一置放台以及一变温器。其中，第一光纤对准器设置于基座之上；第一光纤定位于第一光纤对准器上，随第一光纤对准器调整而移动；第二光纤对准器设置于基座之上，且与第一光纤对准器相对而设；第二光纤定位于第二光纤对准器，随第二光纤对准器调整而移动；置放台设置于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间，以置放光学组件；变温器设置于置放台的下方，且随所需的测量温度而改变置放台的温度。

主权项

1.一种光学测量装置，测量一光学组件，其特征在于，该光学测量装置包含：一基座；一第一光纤对准器，系设置于该基座之上；一第一光纤，定位于该第一光纤对准器上，随该第一光纤对准器调整而移动；一第二光纤对准器，设置于该基座之上，且与该第一光纤对准器相对而设；一第二光纤，定位于该第二光纤对准器，随该第二光纤对准器调整而移动；一置放台，设置于该第一光纤对准器与该第二光纤对准器之间，以置放该光学组件；以及一变温器，设置于该置放台的下方，且随所需的测量温度而改变该置放台的温度。