发明名称 | 一种用计算机测量晶粒度的方法 | ||
摘要 | 一种用计算机测量晶粒度方法,属于金属材料性能测试技术领域。其特征是采用计算机对金相组织图形文件进行处理,首先使每个晶粒与相邻的晶粒能够用不同的颜色明显的区分开来。晶粒记数是根据每个晶粒的颜色值来进行的,每个晶粒记过数后,其颜色值就赋一新值,将每个晶粒处理完以后,计算机就可以计算出晶粒度。该方法的装置由金相显微镜、数码照相机、扫描仪、计算机组成。本发明方法简单,装置使用方便,获得的晶粒度迅速准确。 | ||
申请公布号 | CN1107859C | 申请公布日期 | 2003.05.07 |
申请号 | CN00117751.6 | 申请日期 | 2000.06.01 |
申请人 | 大连理工大学 | 发明人 | 温斌;李廷举;姚山;金俊泽 |
分类号 | G01N15/02 | 主分类号 | G01N15/02 |
代理机构 | 大连理工大学专利中心 | 代理人 | 侯明远 |
主权项 | 1.一种用计算机测量晶粒度的方法,该方法是在由金相显微镜、数码照相机(3)、扫描仪(1)、计算机(6)组成的装置上实现的,其特征在于:所述的一种计算机测量晶粒度方法是使用计算机对金相组织的图形文件进行处理,其步骤如下:1)、对金相组织的计算机图形文件初始化处理,根据晶粒的颜色值,将颜色值分为4~10个颜色值段,落在同一颜色值段的像素点全部赋以同一个颜色;2)、对晶粒记数,计算机寻找初始化后的金相组织图形文件中任意一像素点,计算机便以该点为扩散源,向周围相同颜色值的像素点扩散,在扩散时,扩散过的像素点颜色值又重新赋一新的颜色值,直到其周围再没有与其颜色值相同的像素点为止,此时晶粒数累加一次。接下来是计算机寻找下一个没有扩散过的像素点,然后扩散、晶粒数累加,直到所有的像素点都扩散完全,最后累加所得的数就是所求的晶粒数;3)、计算机根据扫描仪的分辨率计算出试样的面积,最后判断出试样的晶粒度。 | ||
地址 | 116023辽宁省大连市甘井子区凌工路2号 |