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发明名称 SYSTEM FOR STORING AND SEARCHING NAMED DEVICE PARAMETER DATA IN A TEST SYSTEM FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 EP1012615(B1) 申请公布日期 2003.05.02
申请号 EP19980947004 申请日期 1998.09.15
申请人 TERADYNE, INC. 发明人 BLITZ, ALAN, L.
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/319;G06F17/30;(IPC1-7):G01R31/319 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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