发明名称 温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法
摘要 本发明涉及石英晶体密封特性的检验方法,特别是温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法。它包括把待测的石英晶体放入装有介质环境的压力容器,使待测石英晶体完全淹没在介质环境中,通入0.1~1MPa的压缩空气,常温至60℃下保持至少5分钟,进行预处理。干燥外表面。放进石英晶体温度-频率特性实验箱中检测,每隔设定顺序测一次温度-频率特性,同正常石英晶体温度-频率特性标准值比较。本发明能对各类密封特性不良(俗称:漏气)的石英晶体进行更为有效的判断,从而取代气泡法和氦质谱方法。并且还可以去除其它原因引起的品质问题的石英晶体。该方法成本低,速度快。
申请公布号 CN1414358A 申请公布日期 2003.04.30
申请号 CN02131192.7 申请日期 2002.10.17
申请人 李建平;刘亮 发明人 李建平;刘亮
分类号 G01M3/00 主分类号 G01M3/00
代理机构 天津市学苑有限责任专利代理事务所 代理人 赵尊生
主权项 1、一种温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法,其特征在于该方法包括下述步骤:(1)把待测的石英晶体放入装有介质环境的压力容器,使待测石英晶体完全淹没在介质环境中;将此容器密封好,通入0.1~1MPA的压缩空气,常温至60℃下保持至少5分钟,进行预处理。(2)然后,取出经过预处理的待测的石英晶体,干燥外表面。(3)再把经过预处理的石英晶体放进石英晶体温度-频率特性实验箱中检测,每隔设定顺序测一次温度-频率特性,同正常石英晶体温度-频率特性标准值比较。
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