发明名称 |
ARRANGEMENTS TO REDUCE CHARGING DAMAGE IN STRUCTURES OF INTEGRATED CIRCUITS |
摘要 |
Arrangements to reduce charging damage in structures of integrated circuits (ICs).
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申请公布号 |
US2003075762(A1) |
申请公布日期 |
2003.04.24 |
申请号 |
US20010964704 |
申请日期 |
2001.09.28 |
申请人 |
LIN WALLACE W.;SERY GEORGE E. |
发明人 |
LIN WALLACE W.;SERY GEORGE E. |
分类号 |
H01L23/48;H01L23/52;(IPC1-7):H01L29/76;H01L31/113;H01L29/94 |
主分类号 |
H01L23/48 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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