| 主权项 |
1.一种位置检测器(100),系为具备配置为根据被检测物的位置变化而使重叠部(p)的面积变化的线圈(1)及导电体(2)或磁性体(3),与线圈(1)串联连接之电阻(6),通过线圈(1)及电阻(6)的串联电路进行充放电的电容(4),将电容(4)的充电电压作为输入、且于输出为高位准时对电容(4)充电、而于输出为低位准时使电容(4)放电的反转输出的比较器(5),将被检测物的位置变化作为连续振荡动作的周期(T)的变化进行检测的位置检测器(100),其特征为:设定线圈(1)的电阻値、电阻(6)的电阻値、电容(4)的电容量及比较器(5)的临限値,以便对于线圈(1)的电阻値、电阻(6)的电阻値、电容(4)的电容量及比较器(5)的临限値中至少一个値的变化,使周期(T)的变化达到极小値、且在假设温度成为极小値。2.一种位置检测器(200a、200b),其特征为:具备配置为根据被检测物的位置变化而使重叠部(p)的面积变化的线圈(1)及导电体(2)或磁性体(3),与线圈(1)串联连接之电阻(6),通过线圈(1)及电阻(6)的串联电路进行充放电的电容(4),将电容(4)的充电电压作为输入之反转输出的比较器(5),及将连续振荡动作的周期(T)限制为一定的定时电路(50a、50b),将被检测物的位置变化作为从周期(T)开始时至由接近于周期(T)结束的时间点使比较器(5)的输出反转为高位准时为止的时间宽(t)的变化进行检测。3.如申请专利范围第2项之位置检测器(200a、200b),其中,设定线圈(1)的电阻値、电阻(6)的电阻値、电容(4)的电容量及比较器(5)的临限値,以便对于线圈(1)的电阻値、电阻(6)的电阻値、电容(4)的电容量及比较器(5)的临限値中至少一个値的变化,使时间宽(t)的变化达到极小値、且在假设温度成为极小値。4.如申请专利范围第1项之位置检测器,其中,使上述比较器(5)的临限値具有磁滞。5.如申请专利范围第2项之位置检测器,其中,使上述比较器(5)的临限値具有磁滞。6.如申请专利范围第3项之位置检测器,其中,使上述比较器(5)的临限値具有磁滞。7.一种位置检测器(200c、200d),其特征为:具备配置为根据被检测物的位置变化而使重叠部(p)的面积变化的线圈(1)及导电体(2)或磁性体(3),与线圈(1)串联连接之电阻(6),通过线圈(1)及电阻(6)的串联电路进行充放电的电容(4),将电容(4)的充电电压作为输入、且于临限値时具有磁滞的反转输出的比较器(5),及将连续振荡动作的周期(T)限制为一定的定时电路(50a),将被检测物的位置变化作为电容(4)的充电期间的时间宽(t')或放电期间的时间宽(t")的变化进行检测。8.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,在被检测物配设上述线圈(1)、或上述导电体(2)、或磁性体(3),以便于被检测物直线移动时,在上述线圈(1)的外径侧或内径侧中之任一侧使重叠面积变化。9.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,在被检测物配设上述线圈(1)、或上述导电体(2)、或磁性体(3),以便于被检测物直线移动时,在上述线圈(1)的外径侧及内径侧的两侧使重叠面积变化。10.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,被检测物为旋转轴(14),于该旋转轴(14)配设涡卷状的导电体(15)或磁性体(16)的板,同时,配置线圈(17)以便于上述旋转轴(14)旋转时使重叠面积变化。11.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,被检测物为旋转轴(14),于该旋转轴(14)配设涡卷状的导电体(15)、或磁性体(16)的板,同时,配置一对线圈(17),以便于上述旋转轴(14)旋转时使重叠面积变化、且呈挟持上述板状。12.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,被检测物为旋转轴(14),于该旋转轴(14)隔开间隙同相位配设涡卷状的导电体(15)或磁性体(16)的一对相同形状的板,同时,于上述一对板间隙间配置线圈(17),以便于上述旋转轴(14)旋转时使重叠面积变化。13.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,被检测物为旋转轴(14),相对于该旋转轴(14)呈点对称分半配设涡卷状的导电体(15)或磁性体(16)的板,同时,呈点对称配置一对线圈(17),以便于上述旋转轴(14)旋转时使重叠面积变化。14.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,被检测物为旋转轴(14),相对于该旋转轴(14)呈点对称分半配设涡卷状的导电体(15)或磁性体(16)的板,同时,于上述旋转轴(14)旋转时使重叠面积变化、且呈挟持上述板状配置一对线圈(17)、再与此呈点对称配置另一对线圈(17)。15.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,被检测物为旋转轴(14),相对于该旋转轴(14)呈点对称分半隔开间隙同相位配设涡卷状的导电体(15)或磁性体(16)的一对相同形状的板,同时,于上述一对板的间隙间呈点对称配置一对线圈(17),以便于上述旋转轴(14)旋转时使重叠面积变化。16.如申请专利范围第1至7项中任一项之位置检测器,其中,上述线圈(1)系为于磁芯具有磁性体的有心线圈。图式简单说明:图1为第1实施形态之位置检测器的构成图。图2为显示第1实施形态之位置检测器的比较器的输入电压及输出电压的波形图。图3为由电感的大小来比较第1实施形态之位置检测器的各部波形的波形图。图4为由电阻的大小来比较第1实施形态之位置检测器的各部波形的波形图。图5(a)、(b)为显示第1实施形态之位置检测器的电阻的电阻値与周期T的关系的曲线图。图6为第2实施形态之位置检测器的构成图。图7为显示第2实施形态之位置检测器的各部波形的波形图。图8为由电感的大小来比较第2实施形态之位置检测器的各部波形的波形图。图9为由电阻的大小来比较第2实施形态之位置检测器的各部波形的波形图。图10(a)、(b)为显示第2实施形态之位置检测器的电阻的电阻値与时间宽t的关系的曲线图。图11为第3实施形态之位置检测器的构成图。图12为显示第3实施形态之位置检测器的各部波形的波形图。图13为显示第4实施形态之变位检测部的剖面图。图14为显示第5实施形态之变位检测部的剖面图。图15为显示第6实施形态之变位检测部的剖面图。图16(a)、(b)为显示第7实施形态之变位检测部的剖面图。图17(a)、(b)为显示第8实施形态之变位检测部的剖面图。图18(a)、(b)为显示第9实施形态之变位检测部的剖面图。图19(a)、(b)为显示第10实施形态之变位检测部的剖面图。图20(a)、(b)为显示第11实施形态之变位检测部的剖面图。图21(a)、(b)为显示第12实施形态之变位检测部的剖面图。图22为显示第13实施形态之变位检测部的剖面图。图23为第14实施形态之位置检测器的构成图。图24为第15实施形态之位置检测器的构成图。 |
