发明名称 透明导电膜
摘要 本发明在提供适用于大型高精密EL面板,膜表面平坦而电阻率低之透明导电膜。电阻率在250微欧姆公分以下且满足表面凹凸之最大高低差/膜厚在10%以下之透明导电膜,系将例如In、Sn、Ge及O所成之溅镀靶材,以经rf重叠之dc溅镀电力测镀而得。
申请公布号 TW529043 申请公布日期 2003.04.21
申请号 TW090109074 申请日期 2001.04.16
申请人 吉奥马科技股份有限公司;东曹股份有限公司 发明人 中泽弘实;内海健太郎;长崎裕一;黑泽聪
分类号 H01B5/14 主分类号 H01B5/14
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种透明导电膜(唯透明导电膜系除实质上由铟、锡、镓及氧所成者外),其特征为:电阻率在250微欧姆公分以下,且表面凹凸之最大高低差(Z-max)/膜厚(t)在10%以下。2.如申请专利范围第1项之透明导电膜,其中薄膜之构造为结晶膜。3.如申请专利范围第1项之透明导电膜,其实质上系由铟、锡、锗及氧所成。4.如申请专利范围第3项之透明导电膜,其中薄膜之构造为结晶膜。5.如申请专利范围第3项之透明导电膜,其中含锗而Ge/(In+Sn+Ge)之原子比的比率为1.0%至6.0%。6.如申请专利范围第5项之透明导电膜,其中薄膜之构造为结晶膜。7.如申请专利范围第1至6项中任一项之透明导电膜,其系用于EL面板。图式简单说明:第1图 呈示无机EL面板之构造的图。第2图 呈示实施例1所得之膜的电阻率及Z-max/t之图。第3图 呈示实施例1所得之薄膜的X线绕射图谱(XRD)之图。第4图 呈示实施例2所得之膜的电阻率及Z-max/t之图。第5图 呈示实施例2所得之薄膜的X线绕射图谱(XRD)之图。
地址 日本