发明名称 Verfahren zum Herstellen einer Halbleiterstruktur und Verwendung des Verfahrens
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleiterstruktur, bei dem wenigstens eine erste Schicht (B) aufgebracht wird, diese unter Verwendung einer maskierenden Schicht (D) geätzt wird, so dass Fences (F, F') entstehen und bei dem nach Entfernen der maskierenden Schicht (D) und Aufbringen einer Hilfsschicht (E) die Hilfsschicht (E) und die Fences (F, F') gemeinsam abgetragen werden bis auf ein gegebenes Maß der Hilfsschicht (E). Die vorliegende Erfindung betrifft weiter eine Verwendung dieses Verfahrens zum Herstellen von Spacern einer Halbleiterstruktur.
申请公布号 DE10147929(C1) 申请公布日期 2003.04.17
申请号 DE20011047929 申请日期 2001.09.28
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 HARTNER, WALTER;KROENKE, MATTHIAS
分类号 H01L21/02;(IPC1-7):H01L21/321;H01L21/311 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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