发明名称 METODO PARA CARACTERIZAR EL ASPECTO DE UN OBJETO PARTICULAR, PARA PREDECIR EL ASPECTO DE UN OBJETO, Y PARA FABRICAR UN OBJETO QUE TIENE UN ASPECTO PREDETERMINADO, QUE OPCIONALMENTE HA SIDO DETERMINADO SOBRE LA BASE DE UN OBJETO DE REFERENCIA.
摘要 Un método para caracterizar, por medio de una medición, el aspecto de uno bjeto o, más particularmente, la contribución de la superficie al aspecto de un objeto, caracterizado porque la contribución de la superficie al aspecto, o la reflexión de la superficie k1(w,h,i), se calcula partiendo de al menos un valor de reflectancia Rm(w,h,i) que se mide para al menos una frecuencia de luz w; un ángulo de visión predeterminado (h); y al menos un ángulo de iluminación predeterminado (i).
申请公布号 ES2184656(T1) 申请公布日期 2003.04.16
申请号 ES20000125189T 申请日期 2000.11.20
申请人 DOW GLOBAL TECHNOLOGIES INC. 发明人 TORFS, JAN C.;BRANDS, GERRIT J.;GOETHALS, ERIC G.;DEDEYNE, EVELIEN M.T.M.
分类号 G01J3/46;G01J3/50;G01N21/27;G01N21/57;G01N21/84;G01N21/93;(IPC1-7):G01N21/57 主分类号 G01J3/46
代理机构 代理人
主权项
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