发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MODELING THICKNESS PROFILES AND CONTROLLING SUBSEQUENT ETCH PROCESS
摘要
申请公布号 EP1301943(A2) 申请公布日期 2003.04.16
申请号 EP20010950911 申请日期 2001.07.03
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC. 发明人 BODE, CHRISTOPHER, A.;TOPRAC, ANTHONY, J.
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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