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Dispositivo para la prueba de componentes electrónicos (1, 2, 21, 30, 51.4), con un dispositivo (6) de excitación que contacta galvánicamente el componente y lo excita mediante la conexión de una tensión para la creación de un campo en el espacio circundante, así como con un dispositivo de medición que se posiciona con un primer electrodo (11; 42; 53; 61; 71, 72) cerca del componente, caracterizado porque el dispositivo (11, 13, 15) de medición se separa galvánicamente del componente (1, 2, 21, 30, 51.4) y porque el dispositivo de medición presenta un amplificador (13) de medición que se configura para la medición de una diferencia de tensión entre el primer electrodo (11; 42; 53; 61; 71, 72) y un segundo electrodo (15), dispuesto en el campo a una distancia de éste.
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