| 主权项 |
1.一种用以检视电气电路之系统,包括:一近接指示器,用以指示一电气电路之至少一第一部分到一电气电路之至少一第二部分的近接;反应该近接指示器输出的电路组件,用以根据该电气电路至少第一位置对至少该第二位置的近接提供容错输出;及故障侦测电路操作用以回应代表一被检视电气电路的检视输入,以根据至少该容错输出一部份,提供在该被检视之电气电路中故障的输出指示。2.如申请专利范围第1项的电路检视系统,其中该第一部份与第二部分是在与被检视电路相同类别的电路之表示中。3.如申请专利范围第1项或第2项的电路检视系统,其中该第一部份与第二部分是电路中的特性。4.如申请专利范围第3项的电路检视系统,其中该特性是扩充端、衬垫或连接点其中之一。5.如申请专利范围第3项的电路检视系统,其中近接指示器是可操作用以指示有相同型态类别的两特性之间的近接。6.如申请专利范围第3项的电路检视系统,其中近接指示器是可操作用以指示有不同型态类别的两特性之间的近接。7.如申请专利范围第1项的电路检视系统,其中容错是一在参考电路特性与欲被检视电路之相对应匹配特性之间可允许的空间间距。8.如申请专利范围第7项的电路检视系统,其中依据在特性之间的空间间距定限,将特性分类为隔离是与非隔离式,而且对于被分类为隔离式的特性之容错是大于非隔离式的第一部份之容错。9.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于第一型态类别之隔离式特性而言,其容错相异于第二型态类别之隔离式特性之容错。10.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于第一型态类别之非隔离式特性而言,其容错相异于第二型态类别之非隔离式特性之容错。11.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于在已定义的空间区域中之隔离式特性而言,其容错相异于在已定义的空间区域外之隔离式特性之容错。12.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于在已定义的空间区域中之非隔离式特性而言,其容错相异于在已定义的空间区域外之非隔离式特性之容错。13.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于有预定色彩之隔离式特性而言,其容错相异于与预定色彩不相同之隔离式特性之容错。14.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于有预定色彩之非隔离式特性而言,其容错相异于与预定色彩不相同之非隔离式特性之容错。15.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于预定材料组成之隔离式特性而言,其容错相异于与预定材料不相同之材料所组成之隔离式特性之容错。16.如申请专利范围第8项的电路检视系统,其中对于预定材料组成之非隔离式特性而言,其容错相异于与预定材料不相同之材料所组成之非隔离式特性之容错。17.如申请专利范围第9-16项中任何一项的电路检视系统,其中若在欲被检视电路中的特性与在参考电路中匹配特性位置的间距小于适用于隔离式特性之容错,则该特性无缺陷。18.如申请专利范围第9-16项中任何一项的电路检视系统,其中若在欲被检视电路中的该特性与在参考电路中相对应特性位置的间距大于非隔离式特性之容错,且小于隔离式特性之容错,则该特性无缺陷。19.一种用以检视电气电路之系统,包括:一容错指示器,依据至少电路的一空间特征提供容错输出;以及故障侦测电路操作以回应代表一被检视电气电路的检视输入,并且至少根据该容错输出一部份,提供在该被检视之电气电路中故障的输出指示。20.如申请专利范围第19项的电路检视系统,其中空间特征是在参考电路中的空间特征,而其与欲被检视电路之类别相同。21.如申请专利范围第19项的电路检视系统,其中空间特征是在欲被检视电路中的空间特征。22.如申请专利范围第19项的电路检视系统,其中空间特征是在第一特性位置与第二特性位置之间的间距。23.如申请专利范围第22项的电路检视系统,其中第一特性与第二特性具有相同的型态类别。24.如申请专利范围第22项的电路检视系统,其中第一特性与第二特性具有不同的型态类别。25.如申请专利范围第22项的电路检视系统,其中第一特性其位置与第二特性位置的间距超过定限即为隔离式特性。26.如申请专利范围第22项的电路检视系统,其中第一特性其位置与第二特性位置的间距小于定限即为非隔离式特性。27.如申请专利范围第26项的电路检视系统,其中定限是由使用者输入来提供。28.如申请专利范围第25项或第26项的电路检视系统,其中为隔离式特性所提供的容错大于为非隔离式特性所提供的容错。29.如申请专利范围第19项的电路检视系统,其中空间特征是在电路的预定义空间区域中该特性的存在。30.如申请专利范围第25项或第29项的电路检视系统,其中在空间区域内为隔离式特性所提供的容错相异于在空间区域外为隔离式特性所提供的容错。31.如申请专利范围第26项或第29项的电路检视系统,其中在空间区域内为非隔离式特性所提供的容错相异于在空间区域外为非隔离式特性所提供的容错。32.如申请专利范围第19项或第26项的电路检视系统,其中对于在参考电路中,若该特性的位置与对应特性位置的间距小于非隔离式特性之容错,则在该检视输入中的某一特性无缺陷。33.如申请专利范围第19项或第25项的电路检视系统,其中对于在参考电路中,若该特性的位置与对应特性位置的间距小于隔离式特性之容错,且该特性为隔离式特性,则在该检视输入中的某一特性无缺陷。34.如申请专利范围第19项的电路检视系统,其中空间特征是一在电路中特性的密度,而其至少在包围该特性电路的部份中。35.电路检视系统包括:一容错指示器,依据至少电路的某一光学特征提供容错输出;及故障侦测电路操作以回应代表一欲被检视电气电路的检视输入,并且根据至少该容错输出一部份,提供在该欲被检视之电气电路中故障的输出指示。36.如申请专利范围第35项的电路检视系统,其中光学特征是在参考电路中的空间特征,而其与欲被检视电路之类别相同。37.如申请专利范围第35项的电路检视系统,其中光学特征是在欲被检视电路中的光学特征。38.如申请专利范围第35项的电路检视系统,其中容错适用于具有光学特征之特性。39.如申请专利范围第35项的电路检视系统,其中光学特征是该特性的色彩。40.如申请专利范围第35项的电路检视系统,其中光学特征是组成该特性之材料的功能。41.如申请专利范围第35项的电路检视系统,其中光学特征是由该特性所反射的光强度。42.如申请专利范围第35,36,37,38,39,40或41项的电路检视系统,其中进一步包含如申请专利范围第19-34项之电路检视系统。43.一种用以备置一参考値做为检视电路的方法,包括:接收欲被检视电路中的表示;分析该表示以依据空间特征将该表示部分予以分类;且分配容错给部分作为空间特征的功能。44.如申请专利范围第43项备置一参考値之方法,其中接收来自电路CAM资料的说明。45.如申请专利范围第43项备置一参考値之方法,其中接收来自电路CAD资料的说明。46.如申请专利范围第43项备置一参考値之方法,其中说明是有关与电路相同类别之着名优良电路的影像。47.如申请专利范围第43,44,45或46项备置一参考値之方法,其中空间特征是在说明中第一部份与第二部分之间的间距。48.如申请专利范围第43项备置一参考値之方法,其中该部分是一种特性且空间特征是在电路中该特性的空间位置。49.如申请专利范围第48项备置一参考値之方法,其中第一容错分配给具有第一特征的部分,且第二容错分配给具有与第一特征不同之第二特征的部分。50.一种备置一参考値做为检视电路的方法,包括:接收欲被检视电路中的表示;分析该表示以依据光学特征将该表示部分予以分类;及分配容错给部分作为光学特征的功能。51.如申请专利范围第50项备置一参考値之方法,其中接收来自电路CAM资料的说明。52.如申请专利范围第50项备置一参考値之方法,其中接收来自电路CAD资料的说明。53.如申请专利范围第50项备置一参考値之方法,其中说明是有关与电路相同类别之着名优良电路的影像。54.如申请专利范围第50,51,52或53项备置一参考値之方法,其中该部分是在电路中的特性且其光学特征是该特性的色彩。55.如申请专利范围第50,51,52或53项备置一参考値之方法,其中该部分是在电路中的特性且其光学特征是该特性所反射的光强度。56.如申请专利范围第50,51,52或53项备置一参考値之方法,其中该部分是在电路中的特性且其光学特征是组成特性之材料的有关光学特征。57.如申请专利范围第50项备置一参考値之方法,其中第一容错分配给具有第一光学特征的特性;且第二容错分配给具有与第一光学特征不同之第二光学特征的部分。58.如申请专利范围第57项备置一参考値之方法,其中第一容错分配给具有第一光学特征与第一空间特征的特性;且第二容错分配给具有与光学特征即空间特征任何之一不同的特性。图式简单说明:图1是一般化的故障侦测系统的方块图,其用以侦测与本发明较佳实施例一致欲被检视、建构与操作的故障;图2是电路的图解,其适合利用一种AOI系统例如描述于图1的系统予以检视。图3是一方块图,显示用以检视电路的AOI系统,其建构与操作与本发明额外的较佳实施例一致。图4A-4B是参考电路资料图,说明一电路分析器的输出。图5A-5B是特征化参考电路资料图,说明电路特性特征分类器的输出。图6A-6B是参考电路说明图,说明一电路参考的部分。图7是简要的特性匹配步骤之图说,其由与本发明较佳实施例一致的故障侦测器执行。图8是一流程图,说明一优选方法,用以产生与本发明较佳实施例一致的电路参考。图9是一流程图,说明一应用于故障侦测器的优选方法,而其特性匹配与本发明的较佳实施例一致。图10是AOI系统的简要图示说明,本系统用来检视依照本发明的较佳实施例所建构与操作的电路。 |
