首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Verfahren zur beschleunigtenPrüfung von Halbleitervorrichtungen
摘要
申请公布号 DE69719441(D1) 申请公布日期 2003.04.10
申请号 DE19976019441 申请日期 1997.09.26
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 发明人 SHIMADA, YASUHIRO;NAKAO, KEISAKU;INOUE, ATSUO;AZUMA, MASAMICHI;FUJII, EIJI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G11C11/22;G11C29/50;G11C29/56;H01L21/66;H01L21/822;H01L21/8242;H01L27/04;H01L27/10;H01L27/108;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com