| 摘要 |
Um das Testen integrierter Halbleiterspeichereinrichtungen (1) besonders schnell durchführen zu können, wird vorgeschlagen, die im Bereich der Halbleiterspeichereinrichtung (1) anfallenden Testergebnisdaten des jeweiligen Speicherbereichs (10, 10r) jeweils als Mehrzahl blockweiser Testergebnislisten (FM(k, j)) auszubilden, zu übertragen und/oder extern zu speichern.
|
