Integrierte Schaltung und Verfahren zum parallelen Testen von integrierten Schaltungen,申请号DE20001039350-传众专利搜索

发明名称	Integrierte Schaltung und Verfahren zum parallelen Testen von integrierten Schaltungen
摘要
申请公布号	DE10039350(C2)	申请公布日期	2003.04.03
申请号	DE20001039350	申请日期	2000.08.11
申请人	INFINEON TECHNOLOGIES AG	发明人	SCHNEIDER, RALF;WIRTH, NORBERT;GRUBER, ARNDT;RUF, BERNHARD
分类号	G01R31/3177;G11C7/00;G11C29/00;H01L21/66;H01L31/0328;(IPC1-7):H01L21/66;G01R31/317	主分类号	G01R31/3177
代理机构		代理人
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