发明名称 薄膜晶体管存储器件
摘要 一种存储器件包含薄膜晶体管存储单元的存储器阵列。存储单元包括被绝缘体分隔于栅线的栅电极部分的浮栅。栅电极部分包括在施加写入电压时通过绝缘体扩散的扩散性导体。扩散性导体形成通过绝缘体的导电路径,使栅线耦合到浮栅,改变了栅电容因而也是存储单元的状态。存储单元是三端器件,读出电流在读出过程中不通过存储单元中的导电路径(CP)。由于读出电流不干扰存储单元中的存储机制,故使存储单元变得坚固耐用。可以用使用同一个掩模的多个步骤来制造存储器阵列。
申请公布号 CN1407615A 申请公布日期 2003.04.02
申请号 CN02130191.3 申请日期 2002.08.23
申请人 惠普公司 发明人 P·梅;小J·R·伊顿
分类号 H01L21/82;H01L27/10;G11C11/34 主分类号 H01L21/82
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 傅康;梁永
主权项 1.一种对包含多个三端存储单元(200,400)的存储器阵列(100)进行写入的方法,此方法包含:将写入电压施加到被选择的存储单元(200,400),此写入电压使导电元素通过被选择的存储单元(200,400)扩散,并改变存储单元(200,400)的电容。
地址 美国加利福尼亚州