发明名称 光学扫描装置
摘要 本发明系关于一物镜系统(39)其适合用于一光学扫描装置(15)中。此透镜系统(39)包含一第一透镜,或物镜(45),和一第二透镜,或一辅助透镜(47),其设置在一透镜支架(61)的固定位置中。此物镜包含超过一具有第一直径(D1)之第一球面透镜体(67)的一半以上,而此辅助透镜包含超过一具有比第一直径小的第二直径(D2)之第一球面透镜体(69)的一半以上。此物镜和辅助透镜被此透镜支架之第一环形圆柱的内壁(83)和第二环形圆柱的内壁(85)所分别围绕,其具有一直径实际上个别地等于第一和第二直径。在透镜支架中的该内壁可以藉由常用的工具提供在非常精确的同轴位置中。在此方法中,在透镜支架中此物镜和辅助透镜之非常精确的对中心可在一相当简单的方法中完成。
申请公布号 TW526652 申请公布日期 2003.04.01
申请号 TW090106486 申请日期 2001.03.20
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 伯纳杜斯 汉德利库斯 威尔海穆斯 汉德利克斯;佩楚斯 吉拉杜斯 约瑟夫斯 玛利亚 纽言斯;德克 维瑟
分类号 H04N1/04 主分类号 H04N1/04
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种光学扫描装置,用以扫描一光学可读取记录载体之资讯层,该扫描装置包含一辐射光源和一具有光轴且用以聚焦一辐射光束之物镜系统,由辐射光源在操作中供应,成一扫描点在此资讯层上的物镜系统,此物镜系统备有:一第一透镜,其包含一带有一第一中心和第一直径之实质呈球面之第一透镜的一部分;及一第二透镜,其包含一带有一第二中心和小于第一直径的第二直径之实质呈球面之第二透镜的一部分,此第一和第二中心实质上位于此光轴上,其特征为,此第一和第二透镜分别包含此第一和第二球面透镜体的一半以上。2.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中此第一和第二透镜之至少一个被垂直于光轴延伸之边界面约束在一侧。3.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中此第一和第二透镜被固定自相对于彼此的固定位置中。4.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中至少此第一和第二透镜之一的一侧具有非球面形状。5.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中至少此第一和第二透镜体之一包含一具有阿贝数大于63的透明材料。6.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中此第一和第二透镜体包含相同的透明材料。7.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中至少此第一和第二透镜体之一包含一具有折射率小于1.54的透明材料。8.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,其中一磁圈被安排在第二边界面上。9.根据申请专利范围第8项之光学扫描装置,其中此第二边界面具有一中央边界面和一周围边界面沿此光轴移位,此磁圈被安排在周围边界面上,而被此周围边界面的平面所约束之第二透镜的部分包含此第二球面透镜体的一半以上。10.根据申请专利范围第1项之光学扫描装置,备有一磁圈和一透镜支架包含一用于带有中心线和内直径之第二透镜的固定装置,此中心线实质上与光轴重合,且此固定装置沿光轴延伸在一自第一至第二透镜的方向直到超过此第二透镜体的中心,此磁圈被固定在此固定装置的一侧远离第一透镜且具有一内直径实质上等于此固定装置的内直径。11.一种物镜系统,备有:一第一透镜,其包含一带有一第一中心和第一直径之实质呈球面之第一透镜的一部分;及一第二透镜,其包含一带有一第二中心和小于第一直径的第二直径之实质呈球面之第二透镜的一部分,此第一和第二中心实质上位于此中心线上,其特征为,此第一和第二透镜个别地包含此第一和第二球面透镜体的一半以上。12.一种光学播放器,备有:一可在一给定之移动方向中移动之工作台,一种光学扫描装置用以扫描一光学可读取记录载体之资讯层其可以置于此工作台上,及一位移装置,用此位移装置,至少此扫描装置的一物镜系统可以在实质上垂直于此平台移动方向之方向中移动,其特征为,此光学扫描装置为一如申请专利范围第1项之光学扫描装置。图式简单说明:图1显示一根据本发明的光学演奏机,图2显示一根据本发明的光学扫描装置,使用于图1所示之光学演奏机,图3,4,5和6是一根据本发明之透镜系统个别地图示第一,第二,第三和第四具体装置的横截面,适合用于显示于图2中的扫描装置,图7显示一校准工具藉由根据本发明之方法用于显示于图4中之透镜系统的制造,及图8显示一校准工具藉由根据本发明的另一种方法用于显示于图4中之透镜系统的制造。
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