| 主权项 |
1.一种CGROM检测装置,其包括:一机体,该机体内设置有一EPROM,该EPROM内建置有多数预定字元之字型资料,该EPROM之资料可输出至一具有资料比对及资料记忆功能之第一IC,且该第一IC系连系并驱动一具有信号输出及控制功能之第二IC;一探针模组,其系连接至该第二IC,且由该第二IC控制;该探针模组系具有一可结合一PCB板之定位板,该定位板之一侧凸伸有多数SEG信号探针及多数COM信号探针,该多数SEG信号探针及该多数COM信号探针系可分别触及该PCB板具有多数探测点,另该PCB板上具有一控制IC,该控制IC其内部具有一控制字元显示之CGROM;一电路模组,其具有一类比多工选择电路及一类比数位转换电路,该类比多工选择电路系接通该探针模组之多数SEG信号探针及该机体之第一IC及第二IC,且该类比多工选择电路并与该类比数位转换电路相通,而该类比数位转换电路亦连接该多数COM信号探针,且该类比数位转换电路并与该第一IC相连通。2.依申请专利范围第1项所述之CGROM检测装置,其中,该电路模组上并设有分别藉由该第二IC驱动之一绿灯、一红灯及一蜂鸣器。3.依申请专利范围第1项所述之CGROM检测装置,其中,该多数SEG信号探针系为十五支,并均等分为第一组探针、第二组探针及第三组探针等共三组;而该多数COM信号探针系为七支。4.依申请专利范围第1项所述之CGROM检测装置,其中,该PCB板系结合一可由该控制IC之CGROM驱动显示之显示画面。图式简单说明:第1图系本发明之配置图。第2图系本发明探测之PCB板背面示意图,其中控制IC中之CGROM以透视方式表示。第3图系本发明之检测流程图。第4图系本发明之逻辑运算流程图。第5A图系本发明之电路图(一),其中显示者为第一IC部份。第5B图系本发明之电路图(二),其中显示者为第二IC及EPROM部份。第5C图系本发明之电路图(三),其中显示者为探针模组部份。第5D图系本发明之电路图(四),其中显示者为电路模组部份。第6图系本发明检测A、B、C字元之示意图。第7图系本发明检测A、B、C字元,其中B字元系错误之示意图。第8图系本发明显示画面于实施例检测出错误字元后显示出该错误字元。 |
