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Die Erfindung schafft ein Verfahren zum Testen einer zu testenden Speichereinheit (113) in einer Testeinrichtung (100), wobei die zu testende Speichereinheit (113) in die Testeinrichtung (100) eingebracht wird, ein erster zu testender Datensatz (102a-102N) aus der zu testenden Speichereinheit (113) ausgelesen und in einer Komparatoreinheit (106) getestet wird, danach mindestens ein weiterer zu testender Datensatz (102a-102N) aus der zu testenden Speichereinheit (113) ausgelesen und in einer Komparatoreinheit (106) getestet wird.
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