发明名称 Verfahren zum Hochvolt-Screening einer integrierten Schaltung
摘要 Es werden Maßnahmen vorgeschlagen, mit denen sich die Wirksamkeit des Hochvolt(HV)-Screenings von integrierten Schaltungen mit einer Speicherstruktur und einem Word-Decoder deutlich verbessern lässt. DOLLAR A Jeweils mehrere Speicherzellen (11) der Speicherstruktur (1) sind zu einem Wort zusammengefasst. Die Ausgänge des Word-Decoders (2) sind über wordlines (12) mit jeweils einem Wort der Speicherstruktur (1) verbunden. Der Word-Decoder (2) bestimmt mit Hilfe einer Schaltungslogik aus anliegenden Adressbits zunächst die Komplemente dieser Adressbits. Dann bestimmt der Word-Decoder (2) mit Hilfe der Schaltungslogik aus den Adressbits und deren Komplementen für jedes Wort der Speicherstruktur (1) ein wordline-Signal als 0 oder 1 und kann auf diese Weise ein Wort der Speicherstruktur (1) für einen Zugriff, d. h. für einen Lesevorgang und/oder einen Schreibvorgang, frei schalten. Beim HV-Screening wird die Versorgungsspannung bei verschiedenen, als Screening-Vektoren bezeichneten, Schaltungszuständen erhöht. DOLLAR A Erfindungsgemäß umfasst die Schaltungslogik wahlweise aktivierbare Mittel zum Gleichsetzen der Adressbits mit deren Komplementen, so dass zum Realisieren von Screening-Vektoren ein Testmodus aktiviert werden kann, bei dem alle Adressbits gleichgestzt werden und die Komplemente der Adressbits den Adressbits ebenfalls gleichgesetzt werden.
申请公布号 DE10140853(A1) 申请公布日期 2003.03.20
申请号 DE20011040853 申请日期 2001.08.21
申请人 ROBERT BOSCH GMBH 发明人 EBERHARDT, FRIEDEMANN;KLOSE, HANS-PETER
分类号 G11C29/34;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/34
代理机构 代理人
主权项
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