发明名称 镶嵌式内连线的制造方法
摘要 一种镶嵌式内连线的制造方法,依次包括下列步骤:形成介电层于半导体基底;蚀刻介电层形成沟槽;于介电层及沟槽的侧壁及底部形成阻障层;形成金属层于阻障层,并填满沟槽;执行化学机械研磨制程,移除位于介电层上方的阻障层及金属层;形成附着层于金属层,最后形成密封层以覆盖附着层。使密封层与金属层具有较佳的附着度的功效。
申请公布号 CN1404132A 申请公布日期 2003.03.19
申请号 CN01131055.3 申请日期 2001.09.10
申请人 矽统科技股份有限公司 发明人 李世达
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 刘朝华
主权项 1、一种镶嵌式内连线的制造方法,其特征是:它至少依次包含下列步骤:(1)提供一半导体基底;(2)形成一介电层于所述基底上;(3)蚀刻所述介电层,以形成一沟槽;(4)形成一阻障层于所述介电层及沟槽的侧壁及底部;(5)形成一金属层于所述阻障层,并填满所述沟槽;(6)执行化学机械研磨制程,以进行所述金属层表面的平坦化处理;(7)形成一附着层以覆盖所述金属层的表面;(8)形成密闭层于所述附着层。
地址 台湾省新竹科学工业园区