发明名称 Method and apparatus for controlling the growth of thin film during deposition process by measuring the rate of change of optical thickness of the thin-film
摘要
申请公布号 GB2379735(A) 申请公布日期 2003.03.19
申请号 GB20010022197 申请日期 2001.09.14
申请人 * QINETIQ LIMITED 发明人 COLIN JAMES * FLYNN
分类号 G01B11/06;(IPC1-7):G01B9/02 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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