| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen und Inbetriebnehmen einer elektrischen Schaltungseinheit (integrierte Schaltung, Modul, Gerät, CU), bei welchem Verfahren über eine dafür vorgesehene elektrische Testschnittstelle (IF3) Testsignale ausgetauscht werden zwischen der Umgebung der Schaltungseinheit (CU) und einer in der Schaltungseinheit (CU) mit enthaltenen Testschaltungseinheit (TU), bei welchem Verfahren durch die Testschaltungseinheit (TU) innerhalb der Schaltungseinheit (CU) Tests durchgeführt werden, die durch Testsignale von außen eingeleitet und deren Ergebnisse über Testsignale nach außen gemeldet werden, bei dem am Ende der Tests eine Umkonfigurierung der Testschaltungseinheit (TU) durchgeführt wird, derart, daß die zunächst für die Testschaltungseinheit (TU) benötigten Schaltungsteile nach der anschließenden Inbetriebnahme normale Betriebsaufgaben der Schaltungseinheit (CU) wahrnehmen, sowie solche Schaltungseinheiten (CU). <IMAGE></p> |
