发明名称 DUAL-BAND RF TEST INTERFACE CIRCUIT
摘要
申请公布号 IL135686(A) 申请公布日期 2003.03.12
申请号 IL19980135686 申请日期 1998.10.22
申请人 QUALCOMM INCORPORATED 发明人
分类号 H04B17/00;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 H04B17/00
代理机构 代理人
主权项
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