发明名称 Verunreinigungssteuerung für Herstellungsverfahren eingebetteter ferroelektrischer Bauelemente
摘要 Ein Herstellungsverfahren eines ferroelektrischen Bauelements ist beschrieben, bei dem Verunreinigungssubstanzen des ferroelektrischen Bauelements (z. B. Pb, Zr, Ti und Ir), die nicht kompatibel mit Standard-CMOS-Herstellungsverfahren sind, streng gesteuert werden. Inbesondere wurden spezifische Ätzchemien entwickelt, um nicht kompatible Substanzen von der Rückseiten- und Kantenoberfläche des Subtrats zu entfernen, nachdem ein ferroelektrisches Bauelement gebildet wurde. Zusätzlich kann eine Opferschicht über der unteren und der Kantenoberfläche (und bei einigen Ausführungsbeispielen der Vorderseitenkantenausschlußzonenoberfläche) des Substrats angebracht werden, um die Entfernung schwer zu ätzender Verunreinigungsstoffe (z. B. Ir) zu unterstützen. Auf diese Weise kann das Herstellungsverfahren des ferroelektrischen Bauelements in ein Standardhalbleiterherstellungsverfahren integriert werden, wodurch ferroelektrische Bauelemente ohne ein wesentliches Risiko einer gegenseitigen Verunreinigung durch gemeinschaftlich verwendete Ausrüstung (z. B. Schrittgeber, Meßgeräte und dergleichen) gemeinsam mit integrierten Halbleiterschaltungen gebildet werden können.
申请公布号 DE10231192(A1) 申请公布日期 2003.03.06
申请号 DE20021031192 申请日期 2002.07.10
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 GILBERT, STEPHEN R.;HURD, TRACE Q.;MIRKARIMI, LAURA W.;SUMMERFELT, SCOTT;COLOMBO, LUIGI
分类号 H01L21/306;H01L21/00;H01L21/02;H01L21/311;H01L21/3213;H01L21/8246;H01L27/08;H01L27/105;H01L27/115;(IPC1-7):H01L21/823 主分类号 H01L21/306
代理机构 代理人
主权项
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