Halbleiterbauelement zum Anschluß an ein Testsystem sowie Testsystem mit dem Halbleiterbauelement,申请号DE20011002871-传众专利搜索

发明名称	Halbleiterbauelement zum Anschluß an ein Testsystem sowie Testsystem mit dem Halbleiterbauelement
摘要
申请公布号	DE10102871(C2)	申请公布日期	2003.03.06
申请号	DE20011002871	申请日期	2001.01.23
申请人	INFINEON TECHNOLOGIES AG	发明人	KAISER, ROBERT;SCHAMBERGER, FLORIAN;SCHNEIDER, HELMUT
分类号	G11C29/48;(IPC1-7):G01R31/318;G11C29/00;H04L7/00	主分类号	G11C29/48
代理机构		代理人
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