芯片上抖动的测量装置及方法

摘要

本发明涉及一种芯片上抖动(jitter)的测量装置及方法，测量装置包括延迟组件，以及第一与第二组电路。每一延迟组件具有一关联延迟(associated delay)，及一组态为接收一输入时钟信号的输入端。第一组电路检测该输入时钟信号的重要时刻(significant instant)，并组态为响应该输入时钟信号的重要时刻而输出一信号。第二组电路接收响应该输入时钟信号的重要时刻的该信号，及一第一触发信号。并且，第二组电路锁定(latch)响应该输入时钟信号的重要时刻的该信号，且进一步响应于该第一触发信号的一重要时刻。一抖动的测量值便是从响应该输入时钟信号的重要时刻的该锁定信号来决定。

主权项

1.一种具有一抖动测量电路的集成电路，其特征在于，它包括：多个延迟组件，每一延迟组件具有一关联延迟、一组态为接收一输入时钟信号的输入端以及一响应该关联延迟与该输入时钟信号的输出端，其中该输入时钟信号具有一重要时刻(significant instant)；一第一组电路，与该多个延迟组件的输入端与输出端相连接，该第一组电路组态为检测该输入时钟信号上的重要时刻，该第一组电路更组态为响应该输入时钟信号上的重要时刻而输出一信号；以及一第二组电路，组态为接收响应该输入时钟信号的重要时刻的该信号以及一第一触发信号，该第二组电路组态为锁定响应该输入时钟信号的重要时刻的该信号，且还响应于该第一触发信号的一重要时刻，其中抖动的一测量值是由响应该输入时钟信号的重要时刻的锁定信号来决定。