| 主权项 |
1.一种测试完成电子元件之分类控制方法,在用以对应测试结果将在第一托盘上搭载的测试完成电子元件分类且移载至第二托盘的测试完成电子元件之分类控制方法中,包括:从测试结果算出在上述第一托盘上搭载的测试完成电子元件的种类别发生比率的步骤;以及发生比率高的种类的电子元件移载至两个以上的第二托盘的步骤。2.一种测试完成电子元件之分类控制方法,在用以对应测试结果将在第一托盘上搭载的测试完成电子元件分类且移载至第二托盘的测试完成电子元件之分类控制方法中,包括:从测试结果算出在上述第一托盘上搭载的测试完成电子元件的种类别发生比率的步骤;以及从发生比率低的种类的电子元件进行移载,当搭载该种类的电子元件的第二托盘被交换时,进行发生比率高的种类的电子元件的移载。3.如申请专利范围第1项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中当第一托盘分别位于至少两个位置、且电子元件没有从一第一托盘移载至该第二托盘时,从另一第一托盘移载至上述第二托盘。4.如申请专利范围第2项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中当第一托盘分别位于至少两个位置、且电子元件没有从一第一托盘移载至该第二托盘时,从另一第一托盘移载至上述第二托盘。5.如申请专利范围第3项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中当上述另一第一托盘搬送至上述一第一托盘的位置时,从该另一的第一托盘移载电子元件。6.如申请专利范围第4项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中当上述另一第一托盘搬送至上述一第一托盘的位置时,从该另一的第一托盘移载电子元件。7.如申请专利范围第1项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中当第一托盘分别位于至少两个位置时,从一第一托盘移载电子元件至第二托盘的同时,从另一第一托盘移载电子元件至上述第二托盘。8.如申请专利范围第2项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中当第一托盘分别位于至少两个位置时,从一第一托盘移载电子元件至第二托盘的同时,从另一第一托盘移载电子元件至上述第二托盘。9.如申请专利范围第1项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中在上述第一托盘和上述第二托盘之间设有缓冲部,在上述第一托盘上搭载的电子元件被分类且第二托盘并不存在时,暂时移载至上述缓冲部上。10.如申请专利范围第2项所述之测试完成电子元件之分类控制方法,其中在上述第一托盘和上述第二托盘之间设有缓冲部,在上述第一托盘上搭载的电子元件被分类且第二托盘并不存在时,暂时移载至上述缓冲部上。图式简单说明:第1图系为适用于本发明的测试完成电子元件之分类控制方法的电子元件测试装置的实施例的立体图;第2图系为如第1图所示的电子元件测试装置中的电子元件和托盘的控制方法的概念图;第3图系为适用于本发明的测试完成电子元件之分类控制方法的电子元件测试装置的承载(loading)部和卸载(unloading)部的放大图;第4图系表示本发明的测试完成电子元件之分类控制方法的实施例的流程图(flow chart);以及第5图系为第4图的步骤5的子程序(subroutine)的流程图。 |
