发明名称 |
METHOD FOR MEASURING SURFACE STRUCTURES |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erkennung von langwelligen Oberflächenstrukturen flächiger Prüflinge bei welchem erfindungsgemäss ein Muster infraroten Lichtes auf den Prüfling gestrahlt wird, das von dem Prüfling reflektierte infrarote Lichtmuster mit einer Infrarotkamera aufgenommen und zur Feststellung der oberflächenstruktur analysiert wird, und eine entsprechende Vorrichtung.
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申请公布号 |
WO03016819(A1) |
申请公布日期 |
2003.02.27 |
申请号 |
WO2001EP09402 |
申请日期 |
2001.08.14 |
申请人 |
METRONOM GMBH INDUSTRIAL MEASUREMENT;BLONDEAU, JEAN |
发明人 |
BLONDEAU, JEAN |
分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;(IPC1-7):G01B11/25 |
主分类号 |
G01B11/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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