发明名称 硅毫微结构,硅量子线阵列的形成方法,以及基于此的设备
摘要 一种可控的形成硅量子线阵列之类的硅毫微结构的工艺。在超高真空中,在硅表面溅射氮分子离子的均匀流,以形成周期性波浪形的突起,其中所述突起的走向和SOI材料的硅绝缘体边界相齐。基于在9nm到120nm范围选择的波浪形突起的波长,确定离子能量、对于所述材料表面的离子入射角、硅层的温度、波浪形突起的成型深度、所述波浪形突起的高度以及离子在硅中的穿透距离。具有悬垂边的氮化硅掩模用于确定形成阵列的硅表面的大小。在溅射之前,在掩模窗口的硅表面上去除杂质。为了形成硅量子线阵列,将SOI硅层的厚度选定为大于所述的成型深度、所述的高度和所述的离子穿透距离之和,由SOI绝缘体的二次离子发射信号的阈值控制硅线的制造。该毫微结构可以用于诸如FET的光电子和毫微电子设备中。
申请公布号 CN1399791A 申请公布日期 2003.02.26
申请号 CN00816289.1 申请日期 2000.10.02
申请人 塞珀特尔电子有限公司 发明人 瓦莱里·K·斯米尔诺夫;德米特里·S·奇巴罗夫
分类号 H01L21/265;H01L21/335;H01L29/12 主分类号 H01L21/265
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 袁炳泽;谢丽娜
主权项 1.一种形成硅毫微结构的方法,包括:在超高真空中,在硅表面溅射氮分子离子的均匀流,以形成周期性的波浪形突起,所述突起的波阵面处于离子入射面的方向;还包括以下步骤:在溅射之前:在9nm到120nm范围内选择周期性波浪形突起的期望波长;基于所述选择的波长,确定离子能量、对于所述材料表面的离子入射角、所述硅层的温度、所述波浪形突起的成型深度、所述波浪形突起的高度以及离子在硅中的穿透距离。
地址 英属维尔京群岛托托拉岛