| 发明名称 |
Methods and apparatus for testing a semiconductor with temperature desoak |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2002326457(A1) |
申请公布日期 |
2003.02.24 |
| 申请号 |
AU20020326457 |
申请日期 |
2002.07.24 |
| 申请人 |
TERADYNE, INC. |
发明人 |
JOHN J. JR. DUNN;ANDREAS C. PFAHNL |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26;G06F1/20;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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